Prof. Dr.-Ing. habil. Mathias Nowottnick

Lehrstuhl Zuverlässigkeit und Sicherheit elektronischer Systeme

Institut für Gerätesysteme und Schaltungstechnik

Albert-Einstein-Straße 2, 18059 Rostock
Seminargebäude, Raum S 12 (EG)

Tel.: (0381) 498 7204
Tel. Sekretariat: (0381) 498 7201

mathias.nowottnick(at)uni-rostock.de

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Eintrag im LSF der Universität Rostock

➜ Eintrag im Catalogus Professorum Rostochiensium

Dekan der Fakultät für Informatik und Elektrotechnik

Albert-Einstein-Straße 2, 18059 Rostock
Seminargebäude, Raum S 26

Tel.: (0381) 498 7000
Tel. Dekanat: (0381) 498 7001

dekan.ief(at)uni-rostock.de

Dekanat

Science Stories

Schutz-Schicht mit Temperatur-Puffer für Bauelemente ➜ Videos
Mess-Wandler zum Korrosions-Monitoring
Prüf-Vorrichtung zum Messen der Auslöt-Temperatur

Lehre

  • Werkstoffkunde und Werkstoffmechanik
  • Grundlagen der Elektronik 1
  • Gerätetechnik
  • Rechnergestützter Baugruppenentwurf
  • Hochtemperaturelektronik – Konstruktion und Fertigung
  • Elektrotechnik 1 (Lehramt)

Forschung

  • Zuverlässigkeitsprüfung und Korrosionsschutz in der Elektronik
  • Aufbau- und Verbindungstechnik für die Hochtemperaturelektronik
  • Thermisches Management elektronischer Baugruppen

Funktionen

  • Institutsdirektor Institut für Gerätesysteme und Schaltungstechnik (IGS)
  • Leiter Steinbeis-Transferzentrum für Aufbau- und Verbindungstechnik
  • stellvertretender Obmann des DIN-Normausschusses „Löten“
  • Wissenschaflicher Leiter der Fachtagung „Elektronische Baugruppen und Leiterplatten – EBL“
  • stellvertretender Vorsitzender der DVS Fachgesellschaft Löten

Mitgliedschaften

  • Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (GMM) im Verband der Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (VDE)
  • Surface Mount Technology Association (SMTA)
  • Fachverbandes Elektronik-Design (FED)
  • Fachgesellschaft Löten im Deutschen Verband für Schweißen und verwandte Verfahren (DVS)
  • International Microelectronics and Packaging Society (IMAPS)

Wissenschaft ist die organisierte Skepsis gegenüber der Zuverlässigkeit von Expertenmeinungen.
(Richard Feynman)